得利特解析體積電阻率測(cè)定儀介質(zhì)損耗因數(shù)的定義

體積電阻率測(cè)定儀介質(zhì)損耗因數(shù)的定義：
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ只與材料特性有關(guān),與材料的尺寸、體積無(wú)關(guān),便于不同設(shè)備之間進(jìn)行比較。
電阻率測(cè)定儀應(yīng)用介質(zhì)損耗因素及電阻率測(cè)定儀測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。它能反映出絕緣的一系列缺陷,如絕緣受潮,油或浸漬物臟污或劣化變質(zhì),絕緣中有氣隙發(fā)生放電等。這時(shí)流過(guò)絕緣的電流中有功分量IRX增大了,tgδ也加大。
按照電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程的規(guī)定,對(duì)多種電力設(shè)備(如電力變壓器、發(fā)電機(jī)組、高壓開(kāi)關(guān)、電壓電流互感器、套管、耦合電容等)都需要做介質(zhì)損耗因素(tgδ)的測(cè)量。
所以tgδ試驗(yàn)是一項(xiàng)*而且非常有效的試驗(yàn)。能較靈敏地反映出設(shè)備絕緣情況,發(fā)現(xiàn)設(shè)備缺陷。
電阻率測(cè)定儀主要用于測(cè)量炭制品和石墨制品以及其它導(dǎo)電棒狀材料在實(shí)驗(yàn)室常溫下的電阻率，包括粉體材料。